MERCREDI 13 NOVEMBRE
09h30 – 10h00
Accueil café et remise des badges
10h00 – 10h05
Mot de bienvenue (Direction IEMN)
10h05 – 10h30
Introduction du workshop par M. Lionel Buchaillot, Directeur de CNRS Ingénierie
10h30 – 11h30
Présentation du PC10 du PEPR Réseaux du futur et de son volet RF-NET par Philippe Besnier, Responsable du PC10 et du comité RF-Net
11h30 – 12h15
Présentations Flash des expertises et activités des membres du réseau RF-NET (Personnel des plateformes du réseau)
12h15 – 13h45
Session Poster & Buffet dans le hall de l'IEMN
13h45 – 15h15
Visite des plateformes RF-Net de l'IEMN par groupes : Pôle de Caractérisation Hyperfréquence Optique et Photonique (CHOP)
15h15 – 15h30
Pause café / Poster
Session 1 "Calibrage RF sous pointes et espace libre"
15h30
Ouverture de la session 1 de calibrage, avec l'intervention de Jean-Marie Lerat, Responsable du Département Haute Fréquence à la Direction de la Métrologie Scientifique et Industrielle du LNE, intitulée : Développement d’étalons hyperfréquence au LNE
16h10 – 18h30
- interventions :
- 16h10 : Un Consortium Européen pour le Développement de Méthodes et Instruments du MHz au THz - Haddadi Kamel (IEMN)
- 16h30: Caractérisations croisées de matériaux, Impact de l'opérateur, du matériel et du traitement des mesures sur les propriétés délectriques- Laur Vincent (XLIM LabSticc)
- 16h50: Calibrage en espace libre sans filtrage temporel, application à la caractérisation de matériaux solides,multicouches et non-solides - Daniel Bourreau (Labsticc)
- 17h10: Méthode d'étalonnage "Thru-Reflect-Line" pour des applications de de-embedding et de caractérisation de matériaux - Passerieux Damien (XLIM)
- 17h30 : Microwave characterization facilities at CROMA - Lacrevaz Thierry (CROMA)
- 17h50 : R&D Development Challenges in RF & mmWave Lab for S-parameters and Noise Characterization in an Industrial Environment - Joao Goncalves (ST)
- 18h10 : Méthode de calibrage de l'exposition électromagnétique pour l'expérimentation animale en chambre réverbérante électromagnétique - Philippe Besnier (IETR)
18h30 – 19h30
Cocktail "After Work" dans le hall de l'IEMN
JEUDI 14 NOVEMBRE
09h00
Ouverture de la session 2 Calibrage, avec l'intervention d'Andrej Rumiantsev, Directeur des technologies RF chez MPI Corporation :
- On Accuracy and Traceability of Wafer-Level Measurements at mm-Wave Frequencies
09h40 – 10h40
Session 2-1 : "Calibrage en Puissance - Régime non linéaire"
- Interventions :
- 09h40 : Calibrage en puissance On Wafer et piste d'amélioration pour un calibrage directement sous pointes
- Lampin Jean-François et Okada Etienne (IEMN)
- 10h : Techniques d'acquisition et d'étalonnage versatile pour la caractérisation vectorielle fort signal de dispositifs non linéaires RF- Hallepee Clément (XLIM)
- 10h20: Méthodes d'étalonnage avancées pour mesures fort-signal de dispositifs RF multiport - Reveyrand Tibault (XLIM)
10h40 – 11h00
Pause café / Poster
11h00 – 13h00
Session 2-2 : "Calibrage en millimétrique et THz":
- Interventions :
- 11h00 : Extraction de fT et fMAX des transistors HEMT en bandes millimétriquesutilisant du de-embedding obtenu par simulation EM - Medbouhi Mohammed (CEA)
- 11h20: PLATERA plateform at CROMA : an efficient tool to investigate the THz frequency spectrum - Bernier Maxime (CROMA)
- 11h40: Mesure et correction des défauts des bancs decaractérisation d'antennes par métrologie laser - Plus Stéphane (IETR)
- 12h00: Mesures de paramètre S on-wafer d'un HEMT sur substrat d'InP de 250 MHz jusqu'à 1.1 THz avec étalonnage mTRL- Younes Rita (IEMN)
- 12h20: Les transistors THz en technologie III-V pour les applications 6G :comment les mesurer pour envisager les circuits du futur ? - Deng Marina (IMS)
- 12h40: Comparaison des Modèles de Calibrage pour l'Extraction Précise des Performances RF d'un Transistor HBT SiGe en haute fréquence - Sébastien Fregonese (IMS TIMA)
13h00 – 14h00
Buffet au bâtiment IRCICA (à 15 min à pied du bâtiment central IEMN)
14h00
Visite du pôle SigmaCom (bâtiment IRCICA)
16h00
Fin du Workshop
